「最新のネットワーク・アナライザを使用したアクティブデバイス/レーダー評価」セミナー
開催概要
申し込みフォーム| 日時 |
2010年08月06日 (金)
10:00 -17:00 |
| 会場 |
当社 本社/東京オフィス→ 地図 〒160-0023 東京都新宿区西新宿7-20-1 住友不動産ビル27F （ＪＲ新宿より 徒歩６分） |
| 定員 |
30名 |
| 受講料 | 無料 |
| 対象 | アクティブデバイス/モジュール、レーダー等の研究・開発に携わる方 |
| 内容 |
このセミナーでは、主にネットワーク･アナライザを使用し、アンプやミキサなどのアクティブデバイスの様々な評価方法についてご説明いたします。 また、最新のリアルタイム・スペクトラム・アナライザを使用したレーダー信号評価、ミリ波信号源を使用したパルス測定についてもご説明いたします。 【当日の内容】 10:00～11:30 シングルコネクションでのアンプ評価Ⅰ －高調波、IMD測定、ゲインコンプレッション測定など 11:30～12:30 シングルコネクションでのアンプ評価Ⅱ －雑音指数測定、パルス測定など （昼食休憩） 13:30～14:30 ミキサの評価 －コンバージョンロス測定、絶対群遅延、位相測定など 14:45～15:45 リアルタイム・スペアナによるレーダー評価 15:45～16:30 パルスジェネレータとパワーセンサによるパルス測定 16:30～17:00 質疑応答ならびに新製品紹介 詳細はこちら ※内容は一部変更の可能性があります。 ※途中参加も可能です。 ※昼食休憩をはさみますが、昼食のご用意はございませんので、各自でご用意願います。 ※同業他社の方はご遠慮ください。 |
| 講師 |
Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG Product Management/ Matthias Beer Regional solution Management/ Christoph Wagner ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社 マーケティング部 井部 環奈 |
| お申し込み締切日 |
2010年08月05日 (木) |
| お問い合わせ先 |
セミナー事務局 TEL : 03-5925-1270 Email: info.rsjp@rohde-schwarz.com |
