「スペアナの不確かさ評価方法」セミナー
開催概要
| 日時 |
2010年 6月 23日 ( 水 )
13:00 -16:00 |
| 会場 |
当社 本社/東京オフィス→ 地図 〒160-0023 東京都新宿区西新宿7-20-1 住友不動産ビル27F （ＪＲ新宿より 徒歩６分） |
| 定員 |
30名 （定員になり次第、締め切らさせていただきます。） |
| 受講料 | 無料 |
| 対象 | 測定器の校正業務に携わる方、校正の不確かさの基礎を学びたい方 |
| 内容 |
1．不確かさの基礎および導出の要点 不確かさの概要から測定の不確かさ導出までのプロセスを初めての方でも理解しやすく 紹介します。 2．スペアナの不確かさ評価事例 パワーメータを用いてスペアナの高周波電力測定確度を校正する場合の不確かさについて、 校正方法の検討から各不確かさ要因の評価方法等を紹介しながら、先に紹介した手順にて スペアナの校正値および校正の不確かさを導きます。 3．ローデ・シュワルツ・ジャパンにおけるISO17025認定の取り組み JCSS認定範囲および今後の拡充予定を紹介します。 （同業他社の方はご遠慮ください。） |
| 講師 |
ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社 サービスセンター 持田 周一 |
| お申し込み締切日 |
定員に達したため締め切りました
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| お問い合わせ先 |
セミナー事務局 TEL : 03-5925-1270 Email: info.rsjp@rohde-schwarz.com |
